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光焱科技REPS+與G2 Voc損耗分析儀是一個完整的系統(tǒng)，可以幫助科學家測量、計算和分析工作中的太陽能電池中的 Voc-loss，并為下一步的工藝改進提供思路。

LQ-100X-PL外部量子效率eqe,外量子效率eqe測試系統(tǒng)適用測試PLQY (Photoluminescence Quantum Yield, 光致發(fā)光量子產率)。 PLQY 是評價發(fā)光材料的重要指標，除了可以用來對材料進行初級分類的基本參數(shù)，且對于發(fā)光系統(tǒng)與其載子動力學的重要分析方法。

在半導體器件中，不完好的結晶度往往會導致禁帶隙中的缺陷或陷阱態(tài)，這極大地影響了器件的整體光學和電學性能。由于帶隙中的吸收系數(shù)極低，產生的光電流信號也極弱。因此，需要高度靈敏的檢測系統(tǒng)。 Enlitech 的 FTPS 是一種高靈敏度的光電流和外量子效率 (HS-EQE) 光譜系統(tǒng)。它利用傅里葉變換信號處理技術來增強和突破光電流信號檢測極限。 EQE 水平可以低至10-5%（7 個量級）*。

光焱科技QE-R量子效率測試系統(tǒng)采用了高效的橢圓反射器，比傳統(tǒng)的球形透鏡和反射器具有更高的集光效率。且于60cm x 60cm x 60.7cm 的主體內集成了所有光學和機械部件，節(jié)省了大量實驗室空間，但仍保持了各種類型的太陽能電池測試夾具的靈活性。并且也提供簡單而完整的手套箱集成方案。

Enlitech 隆重推出QFLS-Maper 損耗分析-準費米能級檢測儀，可視覺化呈現(xiàn)QFLS image，一眼即可掌握樣品QFLS、Pseudo J-V、PLQY、EL-EQE等全貌；最快2分鐘可透過Pseudo J-V評估材料效率的極限；極限3秒，就可以了解QFLS費米能級分布情況，1眼掌握材料整理全貌、2分鐘評估材料潛力、3秒鐘分析QFLS態(tài)樣。

APD-QE 采用了光束空間強度技術，利用 ASTM 標準制定的「Irradiance Mode」測試方式，與各種先進探尖臺形成完整的微米級光感測器全光譜效率測試解決方案。APD-QE 已被應用于多種先進光感測器的測試中，例如在iPhone 曝光及其多種光感測器、Apple Watch 血氧光感測器、TFT 影像感測器、源動態(tài)圖元感測器（APS）、高靈敏度間切換 X 射線感測器等。