當(dāng)前位置：首頁 > 產(chǎn)品中心 > EQE/光子-電子轉(zhuǎn)換測試 > 損耗缺陷分析 > FTPS光焱科技光高靈敏度外部量子效率系統(tǒng)
簡要描述：在半導(dǎo)體器件中，不完好的結(jié)晶度往往會(huì)導(dǎo)致禁帶隙中的缺陷或陷阱態(tài)，這極大地影響了器件的整體光學(xué)和電學(xué)性能。由于帶隙中的吸收系數(shù)極低，產(chǎn)生的光電流信號(hào)也極弱。因此，需要高度靈敏的檢測系統(tǒng)。 Enlitech 的 FTPS 是一種高靈敏度的光電流和外量子效率 (HS-EQE) 光譜系統(tǒng)。它利用傅里葉變換信號(hào)處理技術(shù)來增強(qiáng)和突破光電流信號(hào)檢測極限。 EQE 水平可以低至10-5%（7 個(gè)量級(jí)）*。
產(chǎn)品型號(hào)：FTPS廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家更新時(shí)間：2025-03-13訪 問 量： 8116產(chǎn)品分類
Product Category詳細(xì)介紹
| 品牌 | Enlitech | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 電子/電池 |
|---|---|---|---|
| 測試動(dòng)態(tài)范圍 | ≥ 7 orders (>140 dB) | 最小光電流測試能力 | ≤ 100 fA (10 fA resolution) |
| 測試重復(fù)性 | >99 % (under AM1.5G) | 波長范圍 | 1.1~2.07 eV (600nm~1100nm ) |
| 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
| 測量模式 | 咨詢光焱科技專家 |
在半導(dǎo)體器件中，不完整的結(jié)晶度往往會(huì)導(dǎo)致禁帶隙中的缺陷或陷阱態(tài)，這極大地影響了器件的整體光學(xué)和電學(xué)性能。 由于帶隙中的吸收系數(shù)極低，產(chǎn)生的光電流信號(hào)也極弱。 因此，需要高度靈敏的檢測系統(tǒng)。
● 陷阱狀態(tài)、缺陷狀態(tài)或電荷轉(zhuǎn)移狀態(tài)的直接光譜學(xué)證據(jù)。
● 波長范圍：1.1~2.07 eV (600nm~1100nm)；選項(xiàng)：0.70 eV~2.07 eV (600nm~1800nm)。
● Turn-key解決方案；安裝后產(chǎn)生可靠的光譜數(shù)據(jù)。節(jié)省時(shí)間和成本效益（至少1年和2萬美元）。
● 完整的培訓(xùn)課程，包括操作和基本背景培訓(xùn)。
● 超過 50 篇 SCI 期刊論文證明。
● 不僅僅是數(shù)據(jù)采集，還包括能級(jí)擬合! 提供CTS和Urbach能級(jí)擬合軟件。
10-5%（7 個(gè)量級(jí)）* FTPS系統(tǒng)的檢測動(dòng)態(tài)可以達(dá)到7 個(gè)量級(jí)，但較低EQE水平由DUT的熱噪聲本身決定。
Model | FTPS (PECT-600) |
波長范圍 | 1.1~2.07 eV（600nm~1100nm）； |
光電流測試能力 | ≤ 100 fA（10 fA resolution） |
測試動(dòng)態(tài)范圍 | ≥ 7 orders(>140 dB) |
測試重復(fù)性 | >99%（under AM1.5G） |
軟件分析 | 電荷轉(zhuǎn)移能量擬合，Urbach 能量計(jì)算 |
光焱科技FTPS傅立葉變換光電流光譜儀實(shí)證如下：
● Organic PV INFO 于 2021 年 2 月 18 日報(bào)道說，了解并大限度地減少性能損失對(duì)于實(shí)現(xiàn)更高的 OPV 效率至關(guān)重要。 PECT-600 的 FTPS 系統(tǒng)正在幫助研究人員了解 Voc 損失機(jī)制的細(xì)節(jié)。
● ~18% 有機(jī)太陽能電池：Enlitech 的 Voc 損耗分析工具用于開發(fā)有機(jī)光伏電池的新材料，效率達(dá)到了近 18%。
● ~17% 有機(jī)太陽能電池：Enlitech 的外部量子效率被用于Voc損耗計(jì)算，并開發(fā)了效率近17%的有機(jī)太陽能電池。
● 鈣鈦礦太陽能電池 (Voc=1.16V)：Enlitech 的Voc損失分析技術(shù)提供了用Lewis堿抑制非輻射重組損失的證明。過氧化物太陽能電池的Voc值從1.10 V提高到1.16 V。
● 光電信號(hào)測量
● EQE測試
● CTSF電賀轉(zhuǎn)移態(tài)能階擬和分析
● 測試稜利範(fàn)圍：0.7~2eV，測量波長範(fàn)圍600~1800nm
● 電賀轉(zhuǎn)移態(tài)能階Ect、重組能λ、電賀轉(zhuǎn)移態(tài)常數(shù)f擬和計(jì)算
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